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产品名称:
数位IC测试器
产品型号:
GUT-6000A
产品展商:
台湾固纬
产品文档:
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简单介绍
数位IC测试器特性：Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类超过 1800 种54/74 系列 TTL 及高速 CMOS4000 及 4500 系列 CMOS蕞大可测 Pin 数 : 28 Pin
数位IC测试器的详细介绍
数位IC测试器特性：
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
蕞大可测 Pin 数 : 28 Pin
数位IC测试器规 格 |
测试范围 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS |
55 及 75 系列 TTL |
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量测种类 | 约 1800 种 |
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测试电压 | 5V DC |
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测试时间 | 高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC |
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使用电源 | 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
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附件 | 电源线 x 1, 操作手册 x 1 |
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尺寸及重量 | 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤 |
固纬IC测试仪选型表
机 种 | 主要功能或用途 |
GUT - 6000A | 数位IC测试器 |
GUT - 6600 | 掌上型数位IC测试器 |
GUT - 6001 | 类比IC测试器 |
